検索検索結果 3 件20件ずつ表示50件ずつ表示100件ずつ表示リスト表示サムネイル表示テーブル表示適合度順出版年：古い順出版年：新しい順タイトル：昇順タイトル：降順著者：昇順著者：降順請求記号順タイトルでまとめる一括お気に入りテストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考えるテストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える紙図書光永悠彦 編著, 西田亜希子 著ナカニシヤ出版2022.9<FB35-M96>国立国会図書館全国の図書館書評 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える[光永悠彦(編著),西田亜希子(著)]書評 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える[光永悠彦(編著),西田亜希子(著)]紙記事大塚 雄作<Z71-P845>日本テスト学会誌 = Japanese journal for research on testing19(1):2023.6p.228-231国立国会図書館全国の図書館出版者（掲載誌）東京 : 日本テスト学会日本テスト学会誌日本テスト学会誌紙雑誌日本テスト学会[2005]-<Z71-P845>国立国会図書館全国の図書館 検索結果は以上です。書誌情報を一括出力
